招待講演
- 11月11日(火) 13:30-14:30
- 蛭田智昭 様((株)日立製作所)
「生成AI 支援による設備・保全知識構築と、保全アプリケーション開発」
- 蛭田智昭 様((株)日立製作所)
- 11月12日(水) 13:26-14:26
- 赤堀浩史 様(Rapidus(株))
「Rapidusの挑戦と、それを支える検査計測技術」
- 赤堀浩史 様(Rapidus(株))
- 11月13日(木) 09:30-10:30
- 小寺哲夫 先生(東京科学大学)
「半導体量子ビット研究の基礎と研究動向」
- 小寺哲夫 先生(東京科学大学)
チュートリアル
- 11月13日(木) 13:15-14:15
- 姚 永昭 先生(三重大学)
「半導体ウェハ全面に分布する格子欠陥の可視化技術」
- 姚 永昭 先生(三重大学)
オーサーズコーナー
発表者の皆様とより活発な議論を行って頂ける場として、講演後にオーサーズコーナー(6F 千里ルーム) を設けます(コマーシャルセッションの講演は除く)。
ランチョンセミナー
昼食休憩時間帯に以下のLuncheon Seminarが開催されます(無料)。事前申し込みが必要ですので、シンポジウム参加申し込みの際、参加するセミナーをチェックしてください。
- 11月11日(火) 12:15-13:30
- 主催企業
- (株) 日立ハイテク
- テーマ
- 未定
- 概要
- 未定
- 主催企業
- 11月12日(水) 12:11-13:26
- 主催企業
- 日本電子(株)
- テーマ
- 未定
- 概要
- 未定
- 主催企業
イブニングセッション
イブニングセッションでは、ナノテスティングに関する、世界での研究動向の報告と今後の展望について討論を行います。11月12日(水) 18:00-20:00、会場は千里ライフサイエンスセンター5F 山村雄一記念ライフホールです。
- 二川 清 様(デバイス評価技術研究所)「JEITA(電子情報技術産業協会)およびREAJ(日本信頼性学会)に おける半導体故障解析技術関連の最近の活動状況」
商業展示&コマーシャルセッション
シンポジウムでは、新たに開発した、改良した、ナノテスティングに関係する装置等を参加者にご紹介できる、また、ディスカッションできる商業展示フロア(6F千里ルーム) を準備しています。さらに、講演会場にて新製品をショートプレゼンテーションにて紹介できる、コマーシャルセッションを準備しています(2 日目)。