- 日時
- 2024年11月12日(火) 13:00～17:00
- 2024年11月13日(水) 9:30～17:00
- 2024年11月14日(木) 9:30～16:00
- 場所
- 千里ルーム (6F)
| # | 会社名 | 展示内容 | 講演 |
|---|---|---|---|
| 1 | 浜松ホトニクス(株) | 半導体故障解析装置 GaN単結晶の品質定量評価装置 | C3 |
| 2 | 日本バーンズ(株) | プロジェクションモアレ式・反り変形計測システム「TDM」 | |
| 3 | (株)アイテス | パワー半導体の評価・解析ご紹介 | |
| 4 | 阪和トレーディング(株) | シグナトーン社、半導体検査装置 | |
| 5 | 丸文(株) | 丸文故障解析ソリューション | |
| 6 | 日本マーテック(株) | 受託分析サービス | |
| 7 | 東芝ナノアナリシス | ナノレベル物理分析 | |
| 8 | (株)アポロウエーブ | Imina Technologies社ナノプロービングソリューション | C5 |
| 9 | セイコーフューチャークリエーション(株) | FIBによるIC回路修正 FIB/TEMを用いた三次元断面観察による異物検出技術のご紹介 | |
| 10 | 日本サイエンティフィック(株) | 各種開封装置 | |
| 11 | 日本セミラボ(株) | For All Your Metrology Needs | C12 C13 |
| 12 | 日本電子(株) | 電子顕微鏡を用いた故障解析 | C9 |
| 13 | (株)アストロン | Analysis System AZSA-HS | C8 |
| 14 | (株)三友製作所 | 新製品 半導体デバイス局所研磨機ELLMIDのご紹介 | |
| 15 | (株)ハイテック・システムズ | JIACO社MIPパッケージ開封装置 & Neocera Magma社MFI 故障解析用検査装置 | |
| 16 | (株)アド・サイエンス | SEM/FIB向けナノプロービングシステム、 プラズマクリーナー、マニピュレータ、スパッタコーター | |
| 17 | TOOL(株) | LAVIS-plusを利用した最新故障解析機能 | C2 |
| 18 | (株)アイ・アール・システム | 半導体不良解析のサーモグラフィの応用 | |
| 19 | (株)日立ハイテク | 最新製品ラインアップのご紹介 | C7 |
| 20 | 東機通商(株) | エミション顕微鏡とその周辺装置 | C4 |
| 21 | カールツァイス(株) | Carl Zeiss Co., Ltd. | C11 |
| 22 | (株)ナノテクソリューションズ | ﾊﾟﾙｽﾚｰｻﾞｰによる高速試料加工ｼｽﾃﾑmicroPREP PRO-FEMTO | C1 |
| 23 | (株)クオルテック | 深層学習を用いたはんだボイド・クラック非破壊検査手法の開発 | |
| 24 | (株)東陽テクニカ | リアルタイム4D-STEM TENSORのご紹介 | |
| 25 | エキシルム | ナノフォーカスX線源NanoTube / 高輝度マイクロフォーカスX線源MetalJet | |
| 26 | (株)ハイテック・システムズ | JIACO社MIPパッケージ開封装置 & Neocera Magma社MFI 故障解析用検査装置 | |
| 27 | (株)エルテック | 製品ベンチマークサービス 解析レポート販売 | |
| 28 | 沖エンジニアリング(株) | LSIプロセス診断でのFin-FET構造における評価基準の構築 | |
| 29 | コメットテクノロジーズ・ジャパン |